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产品ID：S-BR2-Si
品牌名称：美国Dataray
狭缝扫描式光束质量分析仪系统提供高分辨率，但是要求光束小于1μm并且价格要高于相机型光束分析仪。尽管不能给出光束图像，但是在很多情况下XY或XYZ就可以满足应用要求。
产品特点：
· 190至1150 nm，Si探测器
· 650至1800 nm，InGaAs探测器
· 1000至2300或2500 nm，InGaAs（扩展）探测器
· 端口供电，USB2.0，灵活的3米电缆，没有电源砖
· 0.1μm采样和分辨率
· 线性和对数X-Y轮廓
· 轮廓缩放和狭缝宽度补偿
· 经济又准确
· M2选项 – 光束传播分析、发散、聚焦
产品选择：
Beam’R2
BeamMap2
主要特征
集成X和Y轮廓
实时 XYZθΦ 测量和焦点查找
实时指向、发散和M2 测量
接口
USB 2.0 Port-powered
CW or Pulsed?
CW，脉冲最小 PRR（Si 探测器）≈ [500/（激光直径μm）] kHz
波长
Si:190-1150 nm
InGaAs:650-1800 nm
Si+InGaAs:190-1800nm
Si+InGaAs,extended:190-2500nm
X-Y-Z Profiles, plus Θ-Φ
N/A
最佳分辨率
0.1 μm
最小光束
2 μm (Knife Edge mode)
更新率
5 Hz real-time (adjustable 2-10 Hz)
M2 测量
Yes - with M2DU-BR accessory
Yes - real-time
定位焦点
Yes - with M2DU-BR accessory
Yes - real-time
指向/发散
Yes - with M2DU-BR accessory
Yes - real-time
开关增益（选项 dB）
32 dB
参数
参数值
BeamMap2
Beam'R2
Comments
波长可选范围（nm）
190-1150, 650-1800, 190-1800, 190-2500
Yes
Yes
Si, InGaAs, Si + InGaAs,
被扫描光束直径
2 μm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X)
Yes
Yes
Si + InGaAs, extended
X-Y 轮廓及中心分辨率：
0.1 μm 或者 0.05% 的扫描范围
Yes
Yes
精度:
±<2% ± ≤0.5μm
Yes
Yes
CW or Pulsed
连续/脉冲 最小PRR ≈ [500/(激光直径μm)]kHz
Yes
Yes
光束对准准直
± 1 mrad with BeamMap2 Colli Mate
Yes
-
M2 测量
1 to >20, ± 5%
Yes
-
Beam Dependent
实时更新
5 Hz
Yes
Yes
4 Z-plane hyperbolic fit
最大功率＆辐照度
1 W Total & 0.3 mW/μm2
Yes
Yes
Adjustable 2-12 Hz
增益范围：
32dB
Yes
Yes
metallic film on Sapphire slits