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BeamMap2狭缝扫描式光束质量分析仪
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产品: 浏览次数:53BeamMap2狭缝扫描式光束质量分析仪 
品牌: 美国Dataray
单价: 面议
最小起订量:
供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2023-11-17 08:45
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详细信息
 产品ID:S-BMS2-4XY-Si-250
 
品牌名称:美国Dataray
 
 
DataRay的BeamMap2代表了一种完全不同的实时光束分析方法。 它通过允许沿光束行程的多个位置进行测量,扩展了Beam'R2的测量功能。 这种实时狭缝扫描系统在旋转圆盘上的多个z平面中使用XY狭缝对,以同时测量四个不同z位置处的四个光束轮廓。 BeamMap2独特的设计最适用于焦点位置,M2,光束发散和指向的实时测量。
 
 
产品特点:
 
 
· 190至1150 nm,Si探测器
 
· 650至1800 nm,InGaAs探测器
 
· 1000至2300或2500 nm,InGaAs(扩展)探测器
 
· 提供多种平面间距选项
 
· 光束直径为5μm至4mm
 
· 端口供电,USB2.0,灵活的3米电缆,没有电源砖
 
· 0.1μm的采样和分辨率
 
· 线性和对数X-Y轮廓
 
· 轮廓缩放和狭缝宽度补偿
 
· 实时多Z平面扫描狭缝系统
 
· 实时 XYZ轮廓,焦点位置
 
· 实时M2、发散、准直、对准
 
 
产品参数:
 
产品参数
 
 
波长
 
Si detector: 190 to 1150 nm
 
InGaAs detector: 650 to 1800 nm
 
Si + InGaAs detectors: 190 to 1800 nm
 
Si + InGaAs (extended) detectors: 190 to 2300 or 2500 nm
 
扫描光束直径
 
Si detector: 5 μm to 4 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*
 
InGaAs detector: 10 μm to 3 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*
 
InGaAs (extended) detector: 10 μm to 2 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*
 
平面间距(4XYmodels)
 
100 μm: -100, 0, +100, +400 μm
 
250 μm: -250, 0, +250, +1000 μm
 
500 μm: -500, 0, +500, +2000 μm
 
750 μm: -750, 0, +750, +3000 μm
 
平面间距(3XYKE models)
 
50 μm: -50, 0, +50, 0 μm
 
100 μm: -100, 0, +100, 0 μm
 
束腰直径测量
 
Second moment (4s) diameter to ISO 11146; Fitted Gaussian & TopHat
 
1/e2 (13.5%) width
 
User selectable % of peak
 
Knife-Edge mode* for very small beams
 
束腰位置测量
 
在 X、Y 和 Z 方向上 ± 20 μm 最佳
 
测量源
 
连续波;脉冲激光,F μm = [500/(PRR in kHz)]
 
分辨率精度
 
0.1μm或扫描范围的 0.05%±<2%±= 0.5 μm
 
M2 测量
 
1 to > 20, ± 5%
 
发散/准直,指向
 
1 mrad最好
 
最大功率和辐照度
 
1 W Total & 0.5 mW/μm2
 
增益范围
 
1,000:1 Switched 4,096:1 ADC range
 
显示图形
 
X-Y-Z Position & Profiles, Zoom x1 to x16
 
更新率
 
~5 Hz
 
平均
 
用户可选择运行平均值(1 到 8 个样本)
 
最低电脑要求
 
Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port
 
* Knife-Edge mode需要 3XYKE 型号
 
产品选择:
 
 
 
Beam’R2
 
BeamMap2
 
主要特征
 
集成X和Y轮廓
 
实时 XYZθΦ 测量和焦点查找
 
实时指向、发散和M2 测量
 
接口
 
USB 2.0 Port-powered
 
CW or Pulsed?
 
CW,脉冲最小 PRR(Si 探测器)≈ [500/(激光直径μm)] kHz
 
波长
 
Si:190-1150 nm
 
InGaAs:650-1800 nm
 
Si+InGaAs:190-1800nm
 
Si+InGaAs,extended:190-2500nm
 
X-Y-Z Profiles, plus Θ-Φ
 
N/A
 
 
 
最佳分辨率
 
0.1 μm
 
最小光束
 
2 μm (Knife Edge mode)
 
更新率
 
5 Hz real-time (adjustable 2-10 Hz)
 
M2 测量
 
Yes - with M2DU-BR accessory
 
Yes - real-time
 
定位焦点
 
Yes - with M2DU-BR accessory
 
Yes - real-time
 
指向/发散
 
Yes - with M2DU-BR accessory
 
Yes - real-time
 
开关增益(选项 dB)
 
32 dB
 
 
参数
 
参数值
 
BeamMap2
 
Beam'R2
 
Comments
 
波长可选范围(nm)
 
190-1150, 650-1800, 190-1800, 190-2500
 
Yes
 
Yes
 
Si, InGaAs, Si + InGaAs,
 
被扫描光束直径
 
2 μm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X)
 
Yes
 
Yes
 
Si + InGaAs, extended
 
X-Y 轮廓及中心分辨率:
 
0.1 μm 或者 0.05% 的扫描范围
 
Yes
 
Yes
 
 
精度:
 
±<2% ± ≤0.5μm
 
Yes
 
Yes
 
 
CW or Pulsed
 
连续/脉冲 最小PRR ≈ [500/(激光直径μm)]kHz
 
Yes
 
Yes
 
 
光束对准准直
 
± 1 mrad with BeamMap2 ColliMate
 
Yes
 
-
 
 
M2 测量
 
1 to >20, ± 5%
 
Yes
 
-
 
Beam Dependent
 
实时更新
 
5 Hz
 
Yes
 
Yes
 
4 Z-plane hyperbolic fit
 
最大功率&辐照度
 
1 W Total & 0.3 mW/μm2
 
Yes
 
Yes
 
Adjustable 2-12 Hz
 
增益范围:
 
32dB
 
Yes
 
Yes
 
metallic film on Sapphire slits
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