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品牌名称：美国Dataray
DataRay的BeamMap2代表了一种完全不同的实时光束分析方法。它通过允许沿光束行程的多个位置进行测量，扩展了Beam'R2的测量功能。这种实时狭缝扫描系统在旋转圆盘上的多个z平面中使用XY狭缝对，以同时测量四个不同z位置处的四个光束轮廓。 BeamMap2独特的设计最适用于焦点位置，M2，光束发散和指向的实时测量。
产品特点：
· 190至1150 nm，Si探测器
· 650至1800 nm，InGaAs 探测器
· 1000至2300或2500 nm，InGaAs（扩展）探测器
· 光束直径~100 μm至~3 mm（1.5 mm加长InGaAs）
· 25 μm狭缝对与Si；0.1到2 μm采样间隔
· 50 μm狭缝对，带 InGaAs；0.1到2 μm采样间隔
· 实时±1 mr实时发散和指向测量精度
· 端口供电，USB2.0，灵活的3米电缆，没有电源砖
· 0.1 μm采样和分辨率
· 线性和对数X-Y轮廓
· 轮廓缩放和狭缝宽度补偿
· 实时多Z平面扫描狭缝系统
· 实时XYZ轮廓，焦点位置
· 实时M2、发散、准直、对准
产品参数：
产品参数
波长
Si detector: 190 to 1150 nm
InGaAs detector: 650 to 1800 nm
Si + InGaAs detectors: 190 to 1800 nm
Si + InGaAs (extended) detectors: 190 to 2300 or 2500 nm
扫描光束直径
Si detector: 5 μm to 4 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*
InGaAs detector: 10 μm to 3 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*
InGaAs (extended) detector: 10 μm to 2 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*
平面间距（CM4 models）
5 mm: -5, 0, +5, +20 mm
平面间距 (CM3 models)
10 mm: -10, 0, +10, 0 mm
束腰直径测量
Second moment (4s) diameter to ISO 11146; Fitted Gaussian & TopHat
1/e2 (13.5%) width
User selectable % of peak
Knife-Edge mode* for very small beams
束腰位置测量
在 X、Y 和 Z 方向上 ± 20 μm 最佳
测量源
连续波；脉冲激光，Φ μm ≥ [500/(PRR in kHz)]
分辨率精度
0.1 μm或扫描范围的0.05%±< 2% ± = 0.5 μm
M2 测量
1 to > 20, ± 5%
发散/准直，指向
1 mrad最好
最大功率和辐照度
1 W Total & 0.5 mW/μm2
增益范围
1,000:1 Switched 4,096:1 ADC range
显示图形
X-Y-Z Position & Profiles, Zoom x1 to x16
更新率
~5 Hz
平均
用户可选择运行平均值（1 到 8 个样本）
最低电脑要求
Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port
* Knife-Edge mode需要 CM3 型号
产品选择：
Beam’R2
BeamMap2
主要特征
集成X和Y轮廓
实时 XYZθΦ 测量和焦点查找
实时指向、发散和M2 测量
接口
USB 2.0 Port-powered
CW or Pulsed?
CW，脉冲最小 PRR（Si 探测器）≈ [500/（激光直径μm）] kHz
波长
Si:190-1150 nm
InGaAs:650-1800 nm
Si+InGaAs:190-1800nm
Si+InGaAs,extended:190-2500nm
X-Y-Z Profiles, plus Θ-Φ
N/A
最佳分辨率
0.1 μm
最小光束
2 μm (Knife Edge mode)
更新率
5 Hz real-time (adjustable 2-10 Hz)
M2 测量
Yes - with M2DU-BR accessory
Yes - real-time
定位焦点
Yes - with M2DU-BR accessory
Yes - real-time
指向/发散
Yes - with M2DU-BR accessory
Yes - real-time
开关增益（选项 dB）
32 dB
参数
参数值
BeamMap2
Beam'R2
Comments
波长可选范围（nm）
190-1150, 650-1800, 190-1800, 190-2500
Yes
Yes
Si, InGaAs, Si + InGaAs,
被扫描光束直径
2 μm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X)
Yes
Yes
Si + InGaAs, extended
X-Y 轮廓及中心分辨率：
0.1 μm 或者 0.05% 的扫描范围
Yes
Yes
精度:
±<2% ± ≤0.5μm
Yes
Yes
CW or Pulsed
连续/脉冲 最小PRR ≈ [500/(激光直径μm)]kHz
Yes
Yes
光束对准准直
± 1 mrad with BeamMap2 Colli Mate
Yes
-
M2 测量
1 to >20, ± 5%
Yes
-
Beam Dependent
实时更新
5 Hz
Yes
Yes
4 Z-plane hyperbolic fit
最大功率＆辐照度
1 W Total & 0.3 mW/μm2
Yes
Yes
Adjustable 2-12 Hz
增益范围：
32dB
Yes
Yes
metallic film on Sapphire slits